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ケースレーが、日本語の「2010年版 製品ガイド」を発行2010年4月30日--先進電子計測器、システムの世界的リーダであるケースレーインスツルメンツ(NYSE: KEI)は、本日、同社の主力製品のすべてをカバーし詳細な主要情報を網羅した日本語の「201...
ケースレーインスツルメンツ株式会社（Keithley Instruments, KK） 詳細はこちら
2010-05-06 電子計器類（マルチメータ/電流計/電圧計など） 信号発生器 データ収録機器 計測用ソフトウエア パラメータ測定器 その他の電子計測器 素子/回路テスター
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ケースレーが、「電気的な試験測定を理解するためのガイド」CDを発行2010年4月22日--先進電子計測器、システムの世界的リーダであるケースレーインスツルメンツ(NYSE: KEI)は、本日、最も正確で精密な測定を可能にする実際的で役立つテクニックを満載したチュー...
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2010-05-06 電子計器類（マルチメータ/電流計/電圧計など） 信号発生器 パラメータ測定器 素子/回路テスター
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ケースレーの '超速'I-V（電流‐電圧）モジュールにより、材料、デバイス、プロセスの3つの必須特性評価を1つの測定器に集約2010年2月18日―先進電子計測器、システムの世界的リーダであるKeithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI)は、本日、 4200-SCS型 半導体特性評価システムの既...
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2010-02-18 パラメータ測定器
キーワードタグ： アナライザ 信頼性試験 太陽電池 カーブトレーサ 微小電流 半パラ パラメータアナライザ 半導体特性 I-Vアナライザ 微小電圧 C-V
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電子計測器・システムの世界的企業であるケースレーインスツルメンツは、工程管理、製造試験、開発設計、基...
注目イベント
2010/09/16 EDN Japan主催 第6回パワーマネジメントセミナー 『システムの価値を高める電源技術』
セミナーのキーワードは「高効率」、「高品質」、「小型化」などです。これらを実現するための「パワーIC...
Canon Communications Japan合同会社
開催地： 東京都
2010/09/28 オンラインセミナ「超速I-V試験の基礎」（4200半導体パラメータアナライザ）
開催日時：2010年9月28日（火）午前10：00～11：004200型半導体パラメータアナライザに...
2010/12/03 12/3 MATLAB 無料セミナー MATLABにおけるデータ解析の基礎
実験データの数学モデリングなど具体的な例題を複数取り上げ、ExcelとMATLABの連携方法を交えな...
開催地： 愛知県
